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X-Ray Diffraction by Macromolecules
/ by Nobutami Kasai, Masao Kakudo. - Kodansha Ltd. and Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2005. - v.: digital. - ISBN: 9783540283539
Autori: Kasai, Nobutami;Kakudo, Masao
Fa parte di: E-books Springer : Collezione di Fisica e Astronomia

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X-Ray Lasers 2006 : Proceedings of the 10th International Conference
/ edited by P.V. Nickles, K.A. Janulewicz. - Springer, 2007. - v.: digital. - ISBN: 9781402060182
Autori: Nickles, P.V.;Janulewicz, K.A.
Fa parte di: E-books Springer : Collezione di Fisica e Astronomia

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X-ray metrology in semiconductor manufacturing
/ D. Keith Bowen, Brian K. Tanner. - CRC/Taylor & Francis, 2006. - 279 p. : ill.. - ISBN: 9781420005653,9780849339288
Autori: Bowen, D. Keith <1940->;Tanner, B. K.
Fa parte di: E-books CRCnetBASE: collezioni di Ingegneria Civile, Elettrica, Meccanica, Scienza dei materiali, Tecnologia dell'informazione, Sicurezza dell'informazione, Telecomunicazioni

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XML for Bioinformatics
/ by Ethan Cerami. - Springer Science+Business Media, Inc., 2005. - v.: digital. - ISBN: 9780387274782
Autori: Cerami, Ethan
Fa parte di: E-books Springer: Collezione di Tecnologia dell'Informazione e della Comunicazione

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Ultimo aggiornamento: 21 febbraio 2013
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